本標準規(guī)定了GB 24 2 3 .34 -86 《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗方法 試驗Z / A D， 溫度／溫度組合試驗方法》溫度／濕度組合循壞 試驗時所用試驗民備 （ 以下簡稱設(shè)備〉基本參數(shù)的試驗方法。溫度／濕度組合循環(huán)試驗在試驗箱內(nèi)進行 H、J （ 以下簡稱二箱怯） ，應符合本標準的所有規(guī)；溫度／濕度組合循環(huán)試驗在：在試驗箱進行Q ,y （ 以下簡稱 5自法）顯熱試驗箱應符合本標準所有規(guī)應E    低溫試驗箱應符合 GB  5170 .2-85  《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法  低溫試驗設(shè)備》的試驗方法 。
本標準與 GB 5170 . 1-85《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法   總則》 一起使用。
1、檢定項目：
1. 1 相對限度誤差；
1.2升降溫度誤差；
2、檢定用主要儀器
2.1溫度測試儀器；
采用鈾電阻戎其它類似的傳感器，真時間常數(shù)不大卡20 s 。工作室內(nèi)溫度的測試儀器，采用溫度傳感器。
2. 2 相對棍度測試儀器；
采用顯表法或其它類似儀器，其精度為±1 % 。
2 . 3速度測試儀器
采用風速儀，其感應不低0.05 m s。